ZETA電位分析儀簡介：
Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。
技術優勢
1、高靈敏度PMT檢測器；
2、可搭配不同功率光源；
3、準確度高，接近樣品真實值；
4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位；
5、快速檢測，可以追溯歷史數據；
6、結果數據以多種形式和格式呈現；
7、符合USP,CP等個多藥典要求；
8、無需校準；
9、復合型算法：
（1）高斯（Gaussion）正態粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換
10、模塊化設計便于維護和升級；
（1）可自動稀釋模塊（選配）；
（2）自動進樣系統（選配）；
（3）搭配多角度檢測器（選配）；
ZETA電位分析儀
http://www.labeach.cn/SonList-2245201.html
https://www.chem17.com/st478632/erlist_2245201.html