吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

簡(jiǎn) 述：

4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境，為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能

特征：

• 運(yùn)行 Clarius SWon Win7 嵌入式計(jì)算機(jī)的直觀、觸摸屏界面。獨(dú)特的可選遠(yuǎn)程前置放大器將 SMU 的分辨率擴(kuò)展至 10 aACV 儀器使 CV 測(cè)量像 DC IV 一樣簡(jiǎn)單用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的脈沖和脈沖 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脈沖測(cè)量功能獨(dú)立的 PC 提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、圖形和打印以及測(cè)試結(jié)果的板載大容量存儲(chǔ)。配備嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)和數(shù)百個(gè)即用型應(yīng)用測(cè)試，用于點(diǎn)擊式可靠性測(cè)試的內(nèi)置壓力/測(cè)量、循環(huán)和數(shù)據(jù)分析，包括五個(gè)符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的樣品測(cè)試集成支持各種 LCR 儀表、Keithley 開關(guān)矩陣配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脈沖發(fā)生器包括用于領(lǐng)先分析探針的軟件驅(qū)動(dòng)程序

吉時(shí)利 4200A-SCS 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀表征系統(tǒng)執(zhí)行實(shí)驗(yàn)室級(jí) DC 和脈沖器件表征、實(shí)時(shí)繪圖和分析，具有高精度和亞 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步電流-電壓 (IV)、電容-電壓 (CV) 和超快脈沖 IV 測(cè)量。

吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)：

●直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境

●獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA

●用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

●集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡

●內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)

●獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能

●內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試

●支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備

●硬件由keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充

●包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)

●支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

keithley吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，具有高精度和亞fA級(jí)的分辨率。keithley吉時(shí)利4200-SCS提供了進(jìn)的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，WindowsNT操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測(cè)試結(jié)果。

KEITHLEY吉時(shí)利4200-SCS 相關(guān)應(yīng)用：

●半導(dǎo)體器件

●片上參數(shù)測(cè)試

●晶圓級(jí)可靠性

●封裝器件的特性分析

●使用Model4200-SCS控制外部LCR表進(jìn)行C-V、I-V特性分析

●高K柵電荷俘獲

●易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試

●電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度

●電阻式或電容式MEMS驅(qū)動(dòng)特性分析

●光電器件

●半導(dǎo)體激光二極管DC/CW特性分析

●收發(fā)模塊DC/CW特性分析

●PIN和APD特性分析

●科技開發(fā)

·碳納米管特性分析

●材料研究

●電化學(xué)

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）