威訊科技粒子金屬雜質檢測
OCSX-射線粒子掃描儀(XP7)能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產品質量。XP7測量系統中創新的X射線技術可實時分析粒子流的圖像。由于金屬和聚合物對X射線的吸收不同，嵌入的50微米以上的金屬顆粒可被檢測出來。缺陷顆粒被一個多軌道空氣噴嘴系統分揀出來。
可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
X-射線粒子掃描儀(XP7)特點
■高分辨率的X射線圖像
■處理量可達600公斤/小時,根據具體材料性能差異而不同
■符合設備全面保護的技術要求
■結果實時可視化顯示
■用于分揀缺陷顆粒的多軌道空氣噴嘴系統
對于粒子金屬雜質檢測，以下是一些常見的方法：
1. 化學分析法：通過化學反應將金屬雜質轉化為可測量的物質，然后使用各種分析方法（如重量法、滴定法、光譜法等）進行測量。這種方法可以測量出雜質元素的含量，但是操作復雜，需要專業人員操作，且無法測量非金屬雜質。
2. 物理法：利用金屬雜質與粒子的物理性質（如導電性、磁性、密度等）的差異進行分離。常見的有電選、磁選、浮選等。這種方法可以去除大部分金屬雜質，但是對于非金屬雜質則無法去除。
3. 儀器分析法：利用各種高精度的儀器對粒子中的金屬雜質進行檢測。如原子吸收光譜儀、原子熒光光譜儀、電感耦合等離子體光譜儀等。這些儀器可以快速準確地測量出雜質元素的含量，但是價格昂貴，需要專業人員操作。
粒子金屬雜質檢測
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