PLD-MPCS2.0系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測的專業(yè)性分析測試儀器，具有專業(yè)性強(qiáng)，分析性能優(yōu)異、標(biāo)準(zhǔn)模塊多、測量項(xiàng)目全等功能，測定結(jié)果可追溯等優(yōu)勢。

普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌；

辨別顆粒材料性質(zhì)

分析粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等；

直觀、形象、準(zhǔn)確、測試范圍寬以及自動(dòng)識別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；

正偏光顯微測試可以準(zhǔn)確判別顆粒的金屬非金屬特性；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測范圍；

現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等國際標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；

屬于科研級別的新型的粒度測試手段；

系統(tǒng)組成

該系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

正置式偏振光光學(xué)顯微鏡

數(shù)字500萬級別以上的CCD攝像頭

全自動(dòng)0.1微米級別的載物臺(tái)

圖像處理與分析軟件

電腦和打印機(jī)

等部分組成；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

專用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對圖像進(jìn)行處理與分析；

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；

系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)

檢測顆粒≥1um

自動(dòng)測量并計(jì)算出單個(gè)顆粒的面積、寬度、內(nèi)切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸

高精度XYZ三軸自動(dòng)掃描臺(tái)，可執(zhí)行自動(dòng)聚焦功能

高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭

單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時(shí)間和評價(jià)時(shí)間最小1分鐘

自動(dòng)調(diào)節(jié)光強(qiáng)、自動(dòng)聚焦、多視場自動(dòng)掃描、自動(dòng)采集圖像、自動(dòng)顆粒統(tǒng)計(jì)分析

自動(dòng)辨別金屬顆粒、非金屬顆粒

自動(dòng)查詢最大顆粒的粒徑和數(shù)量

在硬件支持條件下軟件終身免費(fèi)升級服務(wù)

測試部件

發(fā)動(dòng)機(jī)及傳動(dòng)系統(tǒng) (閥體，凸輪軸，曲軸，變速箱， 車輪等部件)
液壓元件 (ABS，ESP，轉(zhuǎn)向系統(tǒng)等部件)
油路供給系統(tǒng) (閥體，管件，管路零部件等)
電子組件

應(yīng)用場合更加廣泛，航空、航天、航海、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車、制造等領(lǐng)域進(jìn)行固體顆粒污染度檢測。

型號：PLD-MPCS2.0~10.0

儀器性能：測試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍

zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬像素

標(biāo)尺刻度：0.1μm

分析項(xiàng)目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

自動(dòng)分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%

軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式

具體詳情請電詢普洛帝中國服務(wù)中心！