產(chǎn)品介紹:

三綜合試驗(yàn)箱是模擬高溫，低溫，高低溫循環(huán)以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)，同時(shí)在與振動(dòng)臺(tái)配接后，可以實(shí)現(xiàn)溫度濕度振動(dòng)三因素的綜合試驗(yàn)的儀器設(shè)備。一般用于航天，航空，石油，化工，電子，通訊等科研及生產(chǎn)研制，樣機(jī)試驗(yàn)，產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程必不可少的重要試驗(yàn)手段。三綜合試驗(yàn)箱，又稱三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱、溫濕振三綜合試驗(yàn)箱、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)臺(tái)、溫度/濕度/振動(dòng)綜合應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)，可將溫度、濕度氣候應(yīng)力試驗(yàn)與振動(dòng)力學(xué)應(yīng)力試驗(yàn)集成一體。綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)工作時(shí)，將溫度（高溫或低溫、溫度變化)應(yīng)力、濕度應(yīng)力、振動(dòng)應(yīng)力以及電應(yīng)力按規(guī)定的組合方式和周期性空間同時(shí)或分別施加到試驗(yàn)樣品上。與單—應(yīng)力作用相比具有環(huán)境模擬更真實(shí)、試驗(yàn)效率更高等優(yōu)點(diǎn)。振動(dòng)三綜合試驗(yàn)臺(tái)廣泛用于產(chǎn)品對(duì)環(huán)境適應(yīng)性、使用可靠性的考核與評(píng)定，也應(yīng)用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷的早期發(fā)現(xiàn)及工藝缺陷的篩選等場(chǎng)合以及適用于各類電工、電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)等綜合或單一環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。

三綜合振動(dòng)試驗(yàn)箱試驗(yàn)滿足標(biāo)準(zhǔn)及方法:


1.GB/T 10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

2.GB/T 10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

3.GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)A: 低溫(I E C 60068-2-1:2007,I D T);

4.GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B∶高溫(I E C 60068-2-2:2007,I D T);

5.GB/T 2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):恒定濕熱試驗(yàn)(I E C 60068-2-78:2012,I D T);

6.GB/2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)交變濕熱(12 h+12 h循環(huán))(I EC 60068-2-

30:2005,I D T);

7.GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):溫度變化(I E C 60068-2-14:2009,I D T);

8. G J B 150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn);

9. G J B /T 150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分低溫試驗(yàn);

10.G J B /T 150.9-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第8部分濕熱試驗(yàn)。